YT2650LED晶粒外觀目檢挑除機

YT2650

  YT2650 是一台高效率LED晶粒外觀目檢挑除機，應用光學檢測技術檢測LED晶粒的P-N電極、發光區、晶粒本體是否有外觀不良等問題，也檢測LED晶粒排列的間隙是否有差異或位移及將不良LED晶粒給予挑除。採用高速Area Scan擷取影像，以提高LED晶粒檢測速度，YT2650檢測LED晶粒外觀後會產生一個Wafer Map，該Wafer Map可以和LED Tester測試後的Wafer Map整合，並自動產生一個具有外觀檢測資料及光電測試資料新的Wafer Map，作為LED晶粒自動挑撿設備使用，同時YT2650也有自動挑撿功能，可以將不良的LED晶粒自動挑除。