電性測試: (VF, IR ,VR) ,ESD(4000V), 閘流體Thyristor
光性測試: 可見光(藍光, 綠光, 紅光)
各級chip size產品自動化分類(級)、LED晶粒翻轉、擴張作業、及SMT挑檢作業。
自動光學目檢，可檢出切割不良、刮傷、缺角、崩裂、Pad等各類瑕疵。
自製高效能之挑檢機台、AOI設備、光電測試機及周邊治具等軟硬體工程分析及技術支援。